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薄膜干涉在檢查光學元件表面時應...

發(fā)布時間 2012.12.22

根據(jù)對條紋形狀的分析，我們可以得知被檢表面存在的缺陷，從而在此基礎(chǔ)上進行相應的磨制，最終達到我們所需...

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